產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
IM7587阻抗分析儀產(chǎn)品概述 可信賴的機(jī)型3GHz ● 測試電壓測量頻率:1MHz~3GHz ● 測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ● 測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊
IM7585阻抗分析儀產(chǎn)品概述 高速、高穩(wěn)定性測量,提高生產(chǎn)量!測量時間:較快0.5ms,測量值偏差0.07% ● 測量頻率:1MHz~1.3GHz ● 測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ● 測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
IM7583阻抗分析儀產(chǎn)品概述 高速、高穩(wěn)定性測量,提高生產(chǎn)量!測量時間:較快0.5ms ● 測量頻率:1MHz~600MHz ● 測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量
IM7581阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量
IM7580A阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms,高速、高穩(wěn)定測量,節(jié)省空間的半個機(jī)架大小 ● 測量頻率1MHz~300MHz ● 測量時間:較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量
IM3590化學(xué)阻抗分析儀產(chǎn)品概述 用于測量電氣化學(xué)零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容) ● 適用于離子運動和溶液電阻測量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號源 ● 1臺機(jī)器即可實現(xiàn)LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查 ● 可測量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻 ● 較快2ms的高速測量,實現(xiàn)掃描測量的高速化 ● 基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發(fā)測量均可對應(yīng)
IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品概述 1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查 ● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ● LCR模式下較快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量 ● 基本精度±0.08%的高精度測量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量